SURTRONIC粗糙度仪Taylor Surtronic 3+

SURTRONIC粗糙度仪Taylor Surtronic 3+

Surtronic 3+粗糙度仪详细技术参数：

测量范围：±150μm

分辨率：0.01μm

测量行程（zui大值）：25.4mm

测量行程(zui小值)：0.25mm

测针：112/1502标准测针

     测尖半径5μm

     112/1053替换标准测针

     测尖半径10μm

测量速度：1mm/S

取样长度：0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm

参数精度：2%读数精度+LSDμm

测量参数：Ra, Rq, Rz, Ry, Sm, Rt,

主机电源：电池或接线电源

选用参数：Pc(用于代替Rq)

         Tp%(可用于代替Rq)

数据处理器参数：Ra,Rv,Rq,Rp,Ry,Rz,RzJISIr,Sm,RsK,Rku,S,Pc,HSC,Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,Rpk,Rvk,R,Rmax,Ar,Pt,Kr,tp5%,Htp,Vo

WINDOWS界面图形分析：Waviness+Roughness曲线分析图

主机尺寸：130*80*65mm

主机重量：450g