颗粒、薄片和薄膜/胶带的检测和分析

灵活的设计和强大的技术

凭借PURITY CONCEPT Systems的突破性模型，SIKORA展望了其系统在塑料材料离线检测和分析方面的多功能潜力。根据应用的不同，系统配备了X射线技术（X）或光学传感器（V），用于生产或样品测试，并检测50μm的污染。关于集成技术，SIKORA借鉴了数十年来在电缆以及软管和管材行业的经验。

×纯度概念 X（X 射线技术）

PURITY CONCEPT X基于X射线技术，可检测和分析不透明颗粒和薄片内的金属污染物。由于采用了模块化设计理念，彩色薄膜和胶带也可以进行检测。

×纯度概念 V（光学传感器）

PURITY CONCEPT V基于光学传感器，可检测和分析污染物或缺陷，例如透明颗粒和薄片上的“黑色斑点”或黄色变色。由于采用了模块化设计理念，还可以检测透明薄膜和胶带。

规格

测量原理* 纯度 概念 X： X射线技术

纯度 概念 V： 光学 CMOS 线阵扫描 彩色相机

应用 颗粒、薄片、薄膜/胶带、片材和注塑件

可检测的污染 纯度 概念 X：金属、不均匀性、交叉污染

纯度 概念 V：透明材料中的污染和黑色斑点分别在漫射和有色材料表面

最小的可检测污染物尺寸 X 射线： 50 μm （立方体 3D）， 50 x 50 x 50 μm

光学： 50 μm （正方形 2D）， 50 x 50 μm

允许环境温度/颗粒温度 + 10 至 + 40 °C

接口 USB

可选：局域网

电源 纯度概念 X： 230 V AC （或 115 V AC） ± 10%， 50/60 Hz， 1300 VA

纯度 概念 V： 230 V AC （或 115 V AC） ± 10%， 50/60 Hz， 1.200 VA

尺寸 纯度概念 X： 1，309 x 831 x 1，882 毫米

纯度概念 V： 1，090 x 575 x 921 毫米

（宽 x 高 x 深）

您的收益

最高的材料质量和稳定的生产工艺

模块化概念，满足不同的分析要求（检测颗粒、薄片、薄膜/胶带）

离线操作

X射线或光学检测