POLYTEC轮廓仪TopMap Pro.Surf+

POLYTEC轮廓仪TopMap Pro.Surf+

TopMap Pro.Surf+

表面粗糙度和形状偏差的组合测量与一体化光学 3D 表面测量

表面粗糙度和形状偏差的组合测量

TopMap Pro.Surf+ 可在单个测量系统中方便地确定表面粗糙度和形状偏差 – 精确、可靠且经济高效。额外的粗糙度传感器和智能数据采集将高端表面测量系统TopMap Pro.Surf提升到一个新的水平，形成一体化仪器。由此产生的Pro.Surf+是测量精密表面的理想选择 - 在计量实验室，靠近生产，甚至在生产线上，这要归功于高水平的可重复性。

突出

快速精确的 3D 表面表征，以及粗糙度测量

一体化系统可捕获所有表面细节

非接触式测量原理和可追溯的测量结果

智能扫描技术和滤光轮，几乎适用于所有表面

230 x 220 x 70 mm³ 的大测量体积

远心镜头甚至可以测量低洼点

通过较长的间隔距离实现安全的样品处理

自动组件识别，无需任何机械安装

易于使用和自动化的测量和分析软件

测量表面粗糙度和形状公差

TopMap Pro.Surf+ 使用平面度、台阶高度、平行度和粗糙度等参数，为所有表面表征要求提供定制解决方案。总而言之，空间分辨率，远心镜头和速度确实削减了一个非常令人印象深刻的数字。

白光干涉仪与色度共聚焦技术的结合意味着不会忽略任何细节。在44 x 33 mm的大测量表面上，无需任何拼接，即可在几秒钟内记录200万个斑点，表面积甚至可以扩展到230 x 220 mm。无论图像场大小如何，70 mm的垂直测量范围和出色的垂直分辨率都有足够的余地来完成灵活的测量任务。远心镜头甚至可以到达难以接近的区域，例如孔。

快速数据采集有助于遵守周期时间和所需的速度。自动模式识别等集成机器视觉工具可巧妙地加快质量保证流程。一次通过即可同时捕获多个测试对象 - 无需任何机械安装，并且图像场根据需要排列。